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被檢測半導體器件的詳細視圖

被檢測半導體器件的詳細視圖圖片
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AIGC被檢測半導體器件的詳細視圖
這是關于半導體器件在檢測中的詳細視圖,涉及芯片、晶圓、裸片、封裝、基板、鍵合、填充、缺陷、圖像、載體、輪廓等,包括塑料、陶瓷、剛性等不同類型,涵蓋電路、控制、模塊等結構,對其表面貼裝、孔洞、焊點等進行檢查、測試、記錄、對比和審查。
  • 素材ID:834884611
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  • 格式:JPG
  • 作者:Starkreal
  • 最大分辨率:6720 x 2880px
  • 最大輸出:56.90 x 24.38cm (300dpi) | 237.07 x 101.60cm (72dpi)
關鍵詞
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