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半導體硅晶圓探針測試過程。3D渲染圖像

半導體硅晶圓探針測試過程。3D渲染圖像圖片
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半導體硅晶圓探針測試過程。3D渲染圖像
這是一幅關于半導體硅晶圓探針測試過程的3D渲染圖像,展示了在高精度要求下的測試場景。涉及到光學、微觀等多個領域,在實驗室或工廠環境中,通過專業設備對晶圓進行細致檢測,是半導體制造行業中至關重要的環節,對于保證芯片質量和性能具有關鍵意義。
  • 素材ID:796143922
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  • 格式:JPG
  • 作者:chesky
  • 最大分辨率:7000 x 5300px
  • 最大輸出:59.27 x 44.87cm (300dpi) | 246.94 x 186.97cm (72dpi)
關鍵詞
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